Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis III - 1-2 October 1997, Austin, Texas
- Författare
- (Ali Keshavarzi, Sharad Prasad, Hans-Dieter Hartmann, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1997 | USA | 198 sidor. | 0-8194-2648-2 |